利用頻度の高い参考書籍のタイトルが咄嗟に思い出せなかったのでメモ.ついでにLSIテスト関係の技術書以外の利用頻度の高い参考書籍もこのブログに記録.
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Systems on Silicon)
- 作者: Laung-Terng Wang,Cheng-Wen Wu,Xiaoqing Wen
- 出版社/メーカー: Morgan Kaufmann
- 発売日: 2006/08/14
- メディア: Kindle版
- この商品を含むブログを見る
- 作者: Alfred Crouch
- 出版社/メーカー: Prentice Hall
- 発売日: 1999/06/15
- メディア: ペーパーバック
- この商品を含むブログを見る
System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability (Systems on Silicon)
- 作者: Laung-Terng Wang,Charles E. Stroud,Nur A. Touba
- 出版社/メーカー: Morgan Kaufmann
- 発売日: 2010/07/28
- メディア: Kindle版
- この商品を含むブログを見る
LSIの回路特性の確認用.
CMOS Circuit Design, Layout, and Simulation, Second Edition
- 作者: R. Jacob Baker
- 出版社/メーカー: Wiley-IEEE Press
- 発売日: 2004/11/01
- メディア: ハードカバー
- クリック: 1回
- この商品を含むブログ (1件) を見る
- 作者: 芝原健太郎,宮本恭幸,内田建
- 出版社/メーカー: 丸善出版
- 発売日: 2013/01/24
- メディア: 単行本(ソフトカバー)
- この商品を含むブログを見る
- 作者: 牧野博之,益子洋治,山本秀和
- 出版社/メーカー: 共立出版
- 発売日: 2012/03/08
- メディア: 単行本
- この商品を含むブログを見る
テストチップの設計時に必須.
RTL設計スタイルガイド Verilog HDL編―LSI設計の基本
- 作者: STARC
- 出版社/メーカー: 培風館
- 発売日: 2011/06
- メディア: 単行本
- 購入: 1人 クリック: 3回
- この商品を含むブログを見る
FPGAの設計時,Nios2の設定確認用.
FPGA ボードで学ぶ組込みシステム開発入門 ?Altera編?
- 作者: 小林優
- 出版社/メーカー: 技術評論社
- 発売日: 2011/09/22
- メディア: 大型本
- 購入: 3人 クリック: 31回
- この商品を含むブログ (10件) を見る